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日本corona葡萄酒濁度檢測UT-21 光學(xué)測量儀
日本corona葡萄酒濁度檢測UT-21 光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)和計算方法不受著色影響，可以獲得高線性度的測量結(jié)果。
更新日期：2024-03-25 訪問量：974
日本corona飲料濁度檢測UT-21 光學(xué)測量儀
日本corona飲料濁度檢測UT-21 光學(xué)測量儀 光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)和計算方法不受著色影響，可以獲得高線性度的測量結(jié)果。
更新日期：2024-03-25 訪問量：961
日本corona醬油濁度檢測UT-21 光學(xué)測量儀
日本corona醬油濁度檢測UT-21 光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)和計算方法不受著色影響，可以獲得高線性度的測量結(jié)果。
更新日期：2024-03-25 訪問量：995
日本corona食品行業(yè)用濁度儀UT-21 光學(xué)測量儀
日本corona食品行業(yè)用濁度儀UT-21 光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)和計算方法不受著色影響，可以獲得高線性度的測量結(jié)果。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1108
日本sumita LED金鹵光源LS-L150 光學(xué)測量儀
日本sumita LED金鹵光源LS-L150 金屬鹵化物光源250W級光強度 壽命長：約30,000小時 z多可以進行1,024級調(diào)光 液晶顯示屏上可以顯示狀態(tài)和進行操作設(shè)置 各種遠(yuǎn)程調(diào)光功能 以太網(wǎng)，數(shù)字調(diào)光，0-5V模擬調(diào)光，RS232C調(diào)光
更新日期：2024-03-25 訪問量：717
日本sumita LED光纖光源LS-L150 光學(xué)測量儀
日本sumita LED光纖光源LS-L150 光學(xué)測量儀 金屬鹵化物光源250W級光強度 壽命長：約30,000小時 z多可以進行1,024級調(diào)光 液晶顯示屏上可以顯示狀態(tài)和進行操作設(shè)置 各種遠(yuǎn)程調(diào)光功能 以太網(wǎng)，數(shù)字調(diào)光，0-5V模擬調(diào)光，RS232C調(diào)光
更新日期：2024-03-25 訪問量：883
日本csc產(chǎn)品表面外觀缺陷檢查燈NP-1 光學(xué)測量儀
日本csc產(chǎn)品表面外觀缺陷檢查燈NP-1 用強光可視化潔凈室灰塵、落塵（粗顆粒）、粘附在產(chǎn)品上的污垢、劃痕等
更新日期：2024-03-25 訪問量：1125
日本csc產(chǎn)品表面劃痕檢查燈NP-1 光學(xué)測量儀
日本csc產(chǎn)品表面劃痕檢查燈NP-1 用強光可視化潔凈室灰塵、落塵（粗顆粒）、粘附在產(chǎn)品上的污垢、劃痕等
更新日期：2024-03-25 訪問量：1033
日本csc產(chǎn)品表面灰塵檢查燈NP-1 光學(xué)測量儀
日本csc產(chǎn)品表面灰塵檢查燈NP-1 用強光可視化潔凈室灰塵、落塵（粗顆粒）、粘附在產(chǎn)品上的污垢、劃痕等
更新日期：2024-03-25 訪問量：1111
日本csc潔凈室墻壁浮塵檢查燈NP-1 光學(xué)測量儀
日本csc潔凈室墻壁浮塵檢查燈NP-1 用強光可視化潔凈室灰塵、落塵（粗顆粒）、粘附在產(chǎn)品上的污垢、劃痕等
更新日期：2024-03-25 訪問量：1339
日本csc潔凈室地板灰塵檢查燈NP-1 光學(xué)測量儀
日本csc潔凈室地板灰塵檢查燈NP-1 用強光可視化潔凈室灰塵、落塵（粗顆粒）、粘附在產(chǎn)品上的污垢、劃痕等
更新日期：2024-03-25 訪問量：1293
日本csc 空氣浮塵檢查燈NP-1 光學(xué)測量儀 用強光可視化潔凈室灰塵、落塵（粗顆粒）、粘附在產(chǎn)品上的污垢、劃痕等
更新日期：2024-03-25 訪問量：1023
日本horiba鏡面樣品光澤度檢測IG-410 光學(xué)測量儀
日本horiba鏡面樣品光澤度檢測IG-410 IG-410 可用于測量超高光澤表面，如拋光金屬。該儀表的測量范圍是傳統(tǒng)型號的十倍，甚至連鏡面也可以測量。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1013
日本horiba金屬板涂漆光澤度檢測IG-410 光學(xué)測量儀
日本horiba金屬板涂漆光澤度檢測IG-410 IG-410 可用于測量超高光澤表面，如拋光金屬。該儀表的測量范圍是傳統(tǒng)型號的十倍，甚至連鏡面也可以測量。
更新日期：2024-03-25 訪問量：898
日本horiba硅片表面光潔度檢測IG-410 光學(xué)測量儀
日本horiba硅片表面光潔度檢測IG-410 IG-410 可用于測量超高光澤表面，如拋光金屬。該儀表的測量范圍是傳統(tǒng)型號的十倍，甚至連鏡面也可以測量。
更新日期：2024-03-25 訪問量：915
