日本電測densoku渦流膜厚儀DMC-211

渦流膜厚儀DMC-211的特點(diǎn)

數(shù)字顯示測量值，讀數(shù)

金屬上的大部分薄膜（鋁上的氧化膜，鐵上鍍/涂鋅/鉻），非金屬上的大部分金屬薄膜（塑料上的電鍍等）在短時(shí)間內(nèi)（1秒內(nèi)）由于它測量非破壞性，它是 99% 檢查的理想選擇。

使用個(gè)人電腦即可輕松操作

使用個(gè)人電腦即可輕松進(jìn)行校準(zhǔn)和測量等操作。多種測量模式可供選擇，輕松測量螺絲頭、線材、壓鑄產(chǎn)品等小零件。

配備【自動抓拍】模式

在【自動捕捉】模式下，只需將探頭接觸到被測物體并松開，即可自動捕捉測量值。

具有豐富特性曲線（校準(zhǔn)曲線）的存儲器

標(biāo)準(zhǔn)存儲 70 條自動選擇特性曲線（校準(zhǔn)曲線）。如果您有特殊材料的標(biāo)準(zhǔn)板，您可以創(chuàng)建并輸入新的特性曲線（校準(zhǔn)曲線）。

企業(yè)信息頻道注冊功能

可以為每個(gè)通道注冊對方的公司名稱、零件編號和批號。
通道總數(shù)：40通道

配備統(tǒng)計(jì)處理功能

每個(gè)通道都可以保存測量數(shù)據(jù)，以后可以對測量數(shù)據(jù)設(shè)置統(tǒng)計(jì)項(xiàng)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理。

測量單位

計(jì)量單位為mm、μm、mil、MI。
單位可隨時(shí)更改，測量值自動換算。

日本電測densoku渦流膜厚儀DMC-211

測量原理

當(dāng)攜帶高頻電流的探頭（測量線圈）靠近金屬時(shí)，金屬表面會產(chǎn)生渦流。這種渦流受高頻磁場的強(qiáng)度和頻率、金屬的導(dǎo)電性、厚度、形狀等影響，穿透深度和大小不同。
然后，渦流流動以抵消探頭的高頻磁場，從而使探頭的高頻電阻值發(fā)生變化。由于高頻電阻的這種變化幅度一般與膜厚值不成正比，因此通過與內(nèi)置或用戶創(chuàng)建的特性曲線（校準(zhǔn)曲線）進(jìn)行比較，將其轉(zhuǎn)換為膜厚值并顯示在電腦屏幕。

渦流膜厚儀DMC-211規(guī)格

(注) 規(guī)格如有變更，恕不另行通知。